Микроскоп ПОЛАР 4 Н применяется для исследований в металлографии, минералогии, кристаллографии, геологии и других областях, где важно проводить исследования в проходящем и отраженном поляризованном свете и исследовать двойное лучепреломление различных образцов. В промышленности микроскоп используется для контроля качества полупроводниковых материалов, структурного анализа материалов, для исследования остаточных напряжений материалов и примесей в растворах.
Микроскоп ПОЛАР 4 Н относится к микроскопам исследовательского класса. Благодаря оптической схеме «бесконечность» и объективам планахроматам микроскоп позволяет наблюдать и записывать изображения с минимальными оптическими искажениями и высокой резкостью по всему полю. Это обеспечивает высокую информативность при исследованиях, отсутствие ложных результатов и отличное качество записываемых файлов. Многослойное просветляющее на оптических поверхностях обеспечивает высокий контраст и малый уровень рассеивания света.
В комплекте к микроскопу поставляется 4 планахромата с увеличенным рабочим расстоянием. Увеличение микроскопа в стандартной комплектации 50х-500х, при использовании дополнительно приобретаемых окуляров и объективов 25х-1600х. Револьверное устройство на 5 объективов имеет центрируемые гнезда для объективов.
Микроскоп входит в линейку исследовательских микроскопов, отличающихся высоким качеством оптических и механических деталей, точной сборкой и прецизионной настройкой каждого микроскопа.
Штатив микроскопа является унифицированной платформой для основных частей микроскопа – визуальных насадок, револьверных устройств, конденсоров, осветительных модулей. Благодаря схеме «бесконечность» в ход лучей микроскопа могут быть введены дополнительные оптические устройства, такие как поляризатор, линза Бертрана и оптические компенсаторы, встроенные в промежуточный тубус.
Визуальная насадка тринокулярного типа позволяет устанавливать окулярную камеру и выводить данные на внешнее устройство. Камера устанавливается в канал визуализации с помощью комплектного оптического адаптера с увеличением 0.65х, что позволяет полноценно применять камеры профессионального класса с сенсорами высокого разрешения и размером до 2/3 дюйма.
Адаптер имеет посадочный стандарт C-mount, благодаря чему возможно применение разнообразных камер. Окулярная камера и ПО в комплект микроскопа не входят и приобретается отдельно.
В микроскопе ПОЛАР 4 Н применена схема освещения Кёлера, позволяющая максимально использовать разрешающую способность объективов и наблюдать изображения высокого контраста и яркости. В нее входит центрируемый конденсор с апертурной диафрагмой и осветитель Кёлера с полевой диафрагмой. При работе с объективами малых увеличений фронтальная линза конденсора выводится из хода лучей, для этого она размещена на поворотном кронштейне. В качестве источника света применяется галогенная лампа 20 Вт / 6 В.
Система проходящего света предназначена для работы как с обычным светом, так и поляризованным. Для работы с поляризацией используется поляризатор, встроенный в конденсор. Оправа поляризатора имеет поворотную на 360⁰ конструкцию. Благодаря этому исследования можно поводить не только простым методом при скрещенном и параллельном поляризаторе и анализаторе, но и поворачивать собственно плоскость поляризации. Анализатор установлен в промежуточном тубусе, имеет поворотную на 180⁰ конструкцию и при работе в обычном свете выводится из хода лучей.
В промежуточный тубус микроскопа встроена линза Бертрана с собственным механизмом фокусировки. Это устройство применяется при исследованиях в сходящихся лучах – коноскопических исследованиях. Наиболее часто этот метод используется при изучении оптических свойств кристаллов за счет наблюдения интерференционных фигур исследуемых объектов в задней фокальной плоскости объектива.
Система отраженного света микроскопа ПОЛАР 4 Н предназначена для работы с поляризованным и обычным светом. В микроскопе использована схема прямого освещения предмета через объектив посредством опак-иллюминатора. Такая схема позволяет создавать высокую интенсивность освещения в размер поля исследуемого участка предмета. Также свет при использовании подобной схемы падает на предмет строго по нормали, что особенно важно для исследования образцов в металлографии и петрографии.
Осветительное устройство отраженного света имеет схему Кёлера и обеспечивает освещение объекта исследования прямым светом, направляемым на предмет через объектив микроскопа, что имеет большое значение при металлографических исследованиях. Включает в себя осветитель с галогенной лампой 50 Вт / 12 В с коллектором и конденсором. Осветитель снабжен центрируемыми апертурной и полевой диафрагмами и встроенными светофильтрами с механизмами их ввода в ход лучей. Устройство выполнено в виде независимого модуля с собственным вынесенным блоком стабилизированного питания.
Для работы с поляризованном светом в системе используется выдвижной поляризатор с вращаемой на 360⁰ плоскостью поляризации, при работе с обычным светом поляризатор выдвигается из хода лучей. Анализатор установлен в промежуточном тубусе, имеет поворотную на 180⁰ конструкцию и при работе в обычном свете выводится из хода лучей.
Фокусировка микроскопа производится перемещением предметного столика по высоте с помощью демпфированного зубчато-реечного механизма с коаксиальной системой грубой и тонкой фокусировки. Механизм размещен в штативе микроскопа.
Рукоятка тонкой фокусировки имеет шкалу с ценой деления 0,001 мм, и за один оборот перемещает предметный столик на 0,1 мм. Конструкция механизма в сочетании с регулятором усилия фокусировки обеспечивает не только плавный ход и высокую точность настройки фокуса, но и предотвращает самопроизвольное опускание столика. Правая рукоятка механизма имеет регулируемый ограничитель перемещения столика. Ход механизма фокусировки составляет 20 мм. Конструкция механизма гарантирует точное движение предметного столика без люфтов, высокую точность фокусировки и повторяемость величин перемещения всех механизмов.
Круглый предметный столик микроскопа ПОЛАР 4 Н имеет диаметр 160 мм, может вращаться на 360⁰ и укомплектован съемным препаратоводителем высокой точности. Перемещение объекта по направлениям X-Y в диапазоне 48-27 мм контролируется по шкалам с нониусами.
